Laboratoire de Caractérisation à Froid (LabCaF)

Contexte

Caractérisation d’échantillons supraconducteurs par mesure du « Residual Resistivity Ratio » (RRR) (Φ ≤ 0.15 m, h ≤ 1 m, 4.5 K ≤ T ≤ 300 K) et mesure du premier champ critique HC1 (Φ ≤ 0.3 m, h ≤ 1.33 m, 2 K ≤ T ≤ 40 K).

 

 

 

 

 

 

Moyens techniques

  • Deux petits cryostats :

- 1 cryostat de dimensions utiles h = 1.33 m et Φ = 30 cm, avec un insert à fond amovible, actuellement utilisé pour les mesures de premier champ critique HC1 par magnétométrie locale (B ≤ 150 mT), mais adaptable à d’autres expériences,

- 1 cryostat de dimensions utiles h = 1 m et Φ = 15 cm pour les mesures de RRR,

 

  • Alimentation par bidon d’azote ou d’hélium (T ≥ 1.9 K),
  • Voltmètres et ampèremètres de précision, contrôleurs de température,
  • Amplificateur à détection synchrone,
  • Système d’acquisition Labview.
 

Réalisations, projets associés

Les équipements du LabCaF sont essentiellement utilisés dans le cadre de projets R&D, en amont. Ils ont par exemple servi à caractériser des supraconducteurs nano-composites pour EuCard-2 (mesure du premier champ critique HC1 par magnétométrie locale).

 

Quelques prestations industrielles ont également été réalisées au LabCaF sur l’expérience RRR en particulier.  

 

 

 

Technical steps, expertise

  • Mise en place de l’échantillon dans le cryostat,

Remarque : pour les mesures de HC1, certaines connexions (circuit électrique, instrumentation…) peuvent être effectuées sous une platine, avant de placer l’insert à fond amovible dans le cryostat.

 

  • Refroidissement en azote, puis en hélium (cette étape dure environ deux jours),
  • Acquisition des données (2-3 heures pour une mesure de RRR, une journée pour une mesure de HC1). 
 

Contact : 

 

Maj : 04/06/2018 (4009)

 

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