Imaging of muonic X-rays using a CdTe double-sided strip hard X-ray detector
  - Kavli Institute for the Physics and Mathematics of the Universe (Kavli IPMU) The University of Tokyo
Vendredi 14/06/2019, 13:00-14:00
Bat 141, salle André Berthelot, CEA Paris-Saclay

Non-destructive elemental analysis using negative muons is a new method to study the composition of material samples without any damage.

An analysis of one-dimensional depth profile was demonstrated with Ge semiconductor detectors by changing momenta of muons at MUon Science Establishment (MUSE) at Japan Proton Accelerator Research Complex (J-PARC). However, in order to study the real distribution of elements in samples, two-dimensional spatial information, in conjunction with spectra, is indispensable.

Dr.  Katsuragawa and her team have developed a prototype compact imager with the CdTe double-sided strip detector (CdTe- DSD) which has a large effective area (32 mm × 32 mm). The CdTe detector has a high energy resolution of 1–2 keV at 60 keV and a high position resolution of 250 μm. Since, the counting rate of the experiment is so high that pinhole optics can be used. With a conic pinhole collimator, the team was able to reconstruct images with a simple back projection method.

Dr.  Katsuragawa and her team have performed several experiments on non-destructive analysis using negative muons at the MUSE/J-PARC. They prepared various samples which consist of light elements (Li, B N, F, Al) and have succeeded to derive spatial distributions of these light elements by using muonic X-rays ranging from 17 keV (Li) to 52.3 keV (B).

Contact : Aude GRABAS

 

Informations pratiques pour les séminaires d'instrumentation

A qui s'adressent les séminaires d'instrumentation?  

 

Les séminaires instrumentation Irfu s’adressent à toutes les personnes de l’Irfu et concernent essentiellement les sujets techniques et d’instrumentation par opposition aux sujets de physique.
Leur objectif est à la fois de créer des échanges entre des personnes de différents services de l’Irfu partageant les mêmes sujets d’intérêt et de lier des connaissances sur des pôles d’intérêt commun avec l’extérieur.

Sujet :


Développements et avancées techniques dans les différents domaines et métiers de l’instrumentation scientifique de l’Irfu.
Intervenants : Spécialistes du domaine considéré, à l’intérieur ou à l’extérieur de l’Irfu.


Public :

Ingénieurs, techniciens et physiciens expérimentateurs de l’Irfu.
Objectif :

Stimulation des échanges entre les différents services de l’Irfu, appréciation de l’état de l’art du domaine, liaison de contacts externes pour collaborations éventuelles.

Audience et contenu des séminaires

 

Les séminaires, d’une durée d'une heure au maximum , s’adressent à l’ensemble des ingénieurs, techniciens et physiciens expérimentateurs de l’Irfu. Le périmètre englobe l’ensemble des techniques instrumentales mises en œuvre à l’institut dans les différentes disciplines de physique : mécanique, électronique, informatique, systèmes de détection et d’instrumentation pour les expériences de physique, développement et contrôle d’accélérateurs. Le sujet doit présenter un contenu technique marqué, tout en présentant une transversalité suffisante pour susciter un large intérêt dans l’environnement de l’institut.

Une présentation de l’Irfu et de ses composantes peut être consultée à l’adresse suivante :

 

http://irfu.cea.fr/


La présentation des séminaires passés ou futurs se trouve à l’adresse suivante :


http://irfu.cea.fr/Phocea/Vie_des_labos/Seminaires/index.php

Les intervenants doivent fournir le titre du séminaire, son résumé en quelques lignes ainsi que les transparents projetés.

 Déroulement des séminaires

 En accord avec l’agenda des autres séminaires réguliers de l’Irfu, les séminaires "Instrumentation" se tiennent traditionnellement le mardi à 14h30. Des dispositions inhabituelles peuvent être prises en cas de contrainte particulière.
Les intervenants sont accueillis en fin de matinée. Un déjeuner à la rotonde, restaurant sur le site du CEA-Saclay leur est offert en compagnie des experts du domaine présenté.
Un café est servi à partir de 14h15 et l’exposé débute à 14h30.

 Renseignements pratiques divers

Renseignements administratifs

 

Pour l’établissement des documents d’entrée sur le centre de Saclay, l’intervenant doit fournir les renseignements suivants : nom, suivi éventuellement du nom de jeune fille, prénom, employeur, date, lieu et département de naissance, nationalité, adresse personnelle et profession.

 Plan d’accès

Venir à Saclay

 Règles de remboursement:


Les frais de transport et de séjour peuvent être remboursés sur justificatifs. L’intervenant doit les faire parvenir accompagnés d’un RIB à l’adresse suivante :


Valérie Gautard
Bat 141
CEA-saclay
91191 Gif-sur-Yvette

 

Hôtels à proximité:


liste des hôtels

 

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